X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進行檢測。
X熒光光譜儀是專門為工業用戶設計的、全集成化的X射線熒光光譜儀系統,小型化、高可靠性,它不需要任何外部輔助系統、如變壓器、液氮或冷卻水;主機采用220V交流電源,即可以安裝在實驗室內使用,也可以安裝在質量控制現場使用。儀器可以在任何環境中,每周七天,每天24小時連續運行。
X熒光光譜儀的性能特點:
1、分析速度快。測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,10~300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內,這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
3、非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變,也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
5、分析精密度高。目前含量測定已經達到ppm級別。
6、制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
X熒光光譜儀應用領域非常廣泛,可以分析鋼鐵、有色金屬、土壤、水泥、油品、礦石、耐火材料、玻璃以及用戶特殊材料。根據不同的樣品,儀器可以檢測從ppm到%不同含量范圍內的元素及化合物。