納米粒度電位儀是一種專門用于測量納米級顆粒物粒度和電位的先進儀器。其結合了激光散射技術和電泳光散射技術。當激光通過儀器的樣品池時,激光會與顆粒物相互作用,產生散射光。散射光的強度和角度與顆粒物的粒度和濃度密切相關。儀器通過測量散射光的光強和角度,可以計算出顆粒物的粒度。同時,納米粒度電位儀還會給顆粒物施加一個電場,利用電泳光散射技術測量顆粒物的泳動速度,從而得出顆粒物的電位。
1、定期清洗:操作者需要定期清洗和消毒儀器操作界面和各電極表面,確保沒有殘留物或污垢影響測量精度。每次使用后,應清洗樣品池和玻璃杯等部件,防止樣品殘留造成污染。
2、校準儀器:定期校準儀器是保證測量結果準確性的關鍵步驟。操作者應按照說明書進行零點校準和增益校準,以消除儀器本身的誤差并確定儀器的增益系數。
3、檢查電源線和數據線:操作者應定期檢查電源線和數據線等連接線是否松動或損壞,及時進行維修或更換,以避免測量過程中出現中斷或數據丟失的情況。
4、保持工作環境干燥清潔:操作者應注意保持儀器所在環境的溫度、濕度和潔凈度符合要求,避免將儀器暴露在陽光直射或強烈震動的地方。同時,避免灰塵和雜質進入儀器內部,以免影響儀器的性能和壽命。
5、避免樣品溶液接觸控制面板:在使用過程中,操作者應避免樣品溶液進入儀器的控制面板和顯示屏等部件,以防止損壞。
6、記錄維護情況:操作者在每次維護后,應詳細記錄維護的內容、時間以及執行人員等信息,以便日后追蹤和管理。