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X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進(jìn)行檢測。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，可以測定元素含量。近年來，X熒光光譜分析在各行...

X射線熒光光譜分析通過將可選項(xiàng)的精度管理型軟件進(jìn)一步升級,并使之成為標(biāo)準(zhǔn)配備，實(shí)現(xiàn)了低價(jià)格化。與以往儀器相比，環(huán)境管制物質(zhì)的測量時(shí)間大幅縮短，材料辨識(shí)功能、分析線切換功能、清晰易懂的操作面板易用性大大提高，分析速度更快，操作更簡單。X射線熒光光譜分析是一種常用的分析儀器，主要由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成。基本原理就是：X射線管通過產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，來激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線(又叫X熒光)，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量...

Insitec在線粒度分析儀粒度分布的定義所謂粒度分布，就是粉體樣品中各種大小的顆粒占顆粒總數(shù)的比例。當(dāng)樣品中所有顆粒的真密度相同時(shí)，顆粒的重量分布和體積分布一致。在沒有特別說明時(shí)，儀器給出的粒度分布一般指重量或體積分布。1.公式法表達(dá)粒度分布:Rosin-Rammler公式:W(x)=1-exp[-(x/De)^N]式中，De是與x50(中位徑)成正比的常數(shù)，N則決定粒度分布的范圍，N越大，力度分布范圍越窄，表示樣品中顆粒分布的均勻性越好。2.中位徑:中位徑記作x50,表示...

X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。X射線熒光光譜儀分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測定；X射線熒...

zeta電位儀的測量方法：電泳法對許多熟悉利用此法進(jìn)行高分子分離的人來說，顆粒電泳也是一個(gè)類似現(xiàn)象。懸浮于介質(zhì)中的顆粒被置于一電場中；如果帶電他們會(huì)在電場產(chǎn)生流動(dòng)，陽性顆粒朝負(fù)極流動(dòng)，陰性顆粒朝正極流動(dòng)。然而，顆粒并不是獨(dú)自流動(dòng)，他們周圍會(huì)攜帶一薄層離子和溶劑。這一分離固定媒介與移動(dòng)顆粒及其攜帶的離子和溶劑的界面叫做流體剪切面，而zeta電位正是這一界面的電位。因此zeta電位可以通過測量顆粒在已知電場中的流速來測定。早期的測量儀器（Rank微電泳儀）通過充滿誤差，慢速度的手...