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Empyrean銳影X射線衍射系統是荷蘭帕納科公司繼X’Pert專家系統后，十年一劍，推出的全新X射線衍射儀，可滿足當前4大類X-射線分析要求的平臺，即衍射、散射、反射和CT影像X射線分析平臺，樣品可以是粉末，薄膜，納米材料，塊狀材料。它擁有新開發的X光管，的測角儀、*的新樣品臺和嚴格的輻射安全防護。衍射平臺上的三維探測系統，PIXcel3D探測器將使用于這一多功能的X-射線衍射系統上，將面探測技術與CT技術平民化。使用EmpyreanX射線衍射和混合像素探測器PIXcel3...

EmpyreanNano版多功能X射線散射平臺是一種混合實驗室X射線散射儀。這款*的設備支持多種技術，以多種長度比例進行（納米）材料的結構鑒定。與市場上的其它實驗室儀器不同，EmpyreanNano版涵蓋了從sub-?ngstr?ms到微米級的布拉格間距，以及跨越幾乎50年的散射矢量q范圍——沒有任何間隙。主要應用：1、SAXS（小角X射線散射）SAXS是分析各種樣品類型（液體、粉末、固體、凝膠...）的納米級結構和尺寸的通用工具之一。樣品可以是無定形、結晶或半結晶。通過SA...

X射線熒光(XRF)光譜測定是一種無損式分析技術，可用于獲取不同類型材料的元素信息。它已在許多行業和應用領域中得到廣泛運用，包括：水泥生產、玻璃生產、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、石油和石化、聚合物及相關行業、制藥、保健產品和環保。光譜儀系統通常分為兩大類：波長色散式系統(WDXRF)和能量色散式系統(EDXRF)。兩者之間的區別在于檢測系統。在波長色散式光譜儀中，X射線光管用作直接照射樣品的光源，并且使用波長色散式檢測系統來測量樣品發出的熒光。分光晶體根據波長（而不是能量）來...

Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位)，也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定粉體的Zeta電位，從pH-Zeta電位關系圖上求出等電點，是認識粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性。可廣泛應用于化妝品、選礦、造紙、醫療衛生、建筑材料、超細材料、環境保護、海洋化學等行業，也是化學、化工、醫學、建材等專業的重要教學儀器之一。Zeta電位儀的特點...

2016年11月，X射線分析儀器和軟件供應商帕納科宣布推出全新的Aeris臺式X射線粉末衍射儀（XRD）。這款新系統的主要優點是易于使用并可為客戶帶來諸多好處，能夠快速、地提供被測材料的物相信息。Aeris，重新定義臺式X射線衍射儀：（1）Aeris內置的觸摸屏界面直觀，可直接顯示各種分析結果，所有人都可以無障礙地使用這款儀器。（2）Aeris還具有擁有成本低的優點-它僅需要一個單相電源插口，既不需要冷卻水，也不需要壓縮空氣。（3）Aeris還具備帕納科設備所含的多種成熟技術...