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X射線衍射儀技術(XRD)通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法，X射線衍射儀已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。X射線衍射儀的原理：當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線...

Insitec在線粒度分析儀是干濕一體式激光粒度儀，適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業，尤其對于在液體中會發生化學反應、形狀變化及損失的如中草藥、磁性材料等。Insitec在線粒度分析儀的主要優勢：1、干濕一體化設計本款儀器將濕法與干法測試集成于一體，成功解決了干濕法一體化的各項技術問題，能夠實現干濕一鍵切換，使用快捷方便，是顆粒測試...

進口X射線熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品必須經過同樣的制樣處理過程。X射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發只發生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態等。樣品制備過程由于經過多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。進口X射線熒光光譜儀測粉末樣品誤差的來源：1.粒度效應粉末樣品粒度效應是指...

特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線，它具有靶中元素相對應的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056nm。X'PertPROMRD/XL高分辯衍射儀是半導體材料的標準裝備，用于：材料科學和納米技術，半導體材料研究和生產質量控制，可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，例如：搖擺曲線分析和倒易空間Mapping，反射率和薄膜...

以往的粒度分析方法通常采用篩分或沉降法。常用的沉降法存在著檢測速度慢（尤其對小粒子）、重復性差、對非球型粒子誤差大、不適用于混合物料（即粒子比生必須一致才能較準備）、動態范圍窄等缺點。激光粒度分析儀采用濕法分散技術,具有操作簡便、輸出數據直觀等優點，與傳統儀器比較，提高了時效和分析精度。那么如何來判斷激光粒度分析儀的優劣呢？主要看以下幾個方面：1.粒度測量范圍：粒度范圍寬，適合的應用廣。不僅要看儀器所報出的范圍，而是看超出主檢測面積的小粒子散射（＜0.5μm）如何檢測。的途徑...