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在線粒度儀作為一種粒度分析工具,能夠?qū)崟r監(jiān)測和優(yōu)化顆粒尺寸分布,廣泛應(yīng)用于各個工業(yè)領(lǐng)域。它的高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性使得粒度分析變得更準(zhǔn)確和可靠。它通過光學(xué)或聲學(xué)原理,將物料中的顆粒進(jìn)行非接觸式檢測,并根據(jù)檢測結(jié)果生成粒度分布曲線。通常具有高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性的特點(diǎn),可以...
1、X熒光光譜儀核查周期X熒光光譜光譜儀經(jīng)機(jī)構(gòu)檢測合格后每3個月進(jìn)行一次期間核查。2、X熒光光譜儀期間核查的類型采用定值物質(zhì)進(jìn)行核查。3、X熒光光譜儀核查內(nèi)容①PE基質(zhì)工作曲線用已有的PE基質(zhì)工作曲線測定PE基質(zhì)的定值物質(zhì)6次,其定值為:Cr:600ppm、Cd:310ppm、Hg:600ppm、Pb:620ppm、Br:590ppm,計(jì)算出其平均值和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。要求各個元素的平均值落在定值的95-105%之間,相對標(biāo)準(zhǔn)偏差必須小于10%。②PVC基質(zhì)工作曲線用已有的PVC...
一、進(jìn)口X射線衍射儀制樣中應(yīng)注意的問題1、樣品粉末的粗細(xì):樣品的粗細(xì)對衍射峰的強(qiáng)度有很大的影響。要使樣品晶粒的平均粒徑在5μm左右,以保證有足夠的晶粒參與衍射。并避免晶粒粗大、晶體的結(jié)晶完整,亞結(jié)構(gòu)大,或鑲嵌塊相互平行,使其反射能力降低,造成衰減作用,從而影響衍射強(qiáng)度。2、樣品的擇優(yōu)取向:具有片狀或柱狀*解理的樣品物質(zhì),其粉末一般都呈細(xì)片狀或細(xì)律狀,在制作樣品過程中易于形成擇優(yōu)取向,形成定向排列,從而引起各衍射峰之間的相對強(qiáng)度發(fā)生明顯變化,有的甚至是成倍地變化。對于此類物質(zhì),...
由于產(chǎn)生誤差的原因不同,能量色散型X熒光光譜儀各種誤差具有不同的性質(zhì),顯示出不同的基本特征。通常將誤差分為系統(tǒng)誤差、隨機(jī)誤差與過失誤差三類。(1)系統(tǒng)誤差由于在能量色散型X熒光光譜儀測定過程中某些固定的原因,造成測定結(jié)果經(jīng)常性偏高或偏低,出現(xiàn)比較恒定的正誤差或負(fù)誤差,這種誤差稱為系統(tǒng)誤差,或者稱為固定誤差、可測誤差,它是測定結(jié)果中的主要誤差來源。系統(tǒng)誤差的特點(diǎn)是,這種誤差在測定過程中按一定規(guī)律重復(fù)出現(xiàn),并具有一定的方向性,表現(xiàn)為測定結(jié)果經(jīng)常性偏高或偏低,增加測定次數(shù)并不能減少...
一、檢測元素范圍一般來說,波譜儀可探測的zui輕元素為鈹,能譜儀可檢測到硼元素,而實(shí)際上,波譜儀一般也只測到硼。對于原子序數(shù)小于10的超輕元素,過去多采用硬脂酸鉛晶體分光,對氮、氫等元素的探測效率較低,現(xiàn)在使用人工沉積的多層膜晶體,使探測效率提高很多。圖1顯示了用硬脂酸鉛晶體(STE)與W2C多層膜晶體(LDEB)對硼元素的測試結(jié)果。二者的實(shí)驗(yàn)條件相同,圖的縱坐標(biāo)為X2射線強(qiáng)度。可以看到,用多層膜測得的強(qiáng)度比硬脂酸鉛提高了五倍多,峰背比改善更大,對其它超輕元素的測量都有類似的...
用EDXRF能量色散X射線熒光光譜儀測試樣品中的鎘鉛汞溴鉻時,哪些元素之間存在干擾?該如何去除?1、應(yīng)明確理解,熒光分析存在干擾的元素有很多,每一種需要測試的元素都會受到其它某些元素的影響。如鉛分析過程中常出現(xiàn)砷干擾,汞分析過程中常出現(xiàn)鍺和錸干擾。2、常見干擾[經(jīng)驗(yàn)]Cd:Br/Pb/Sn/SbPb:Br/AsHg:Br/Pb/Fe/CaCr:ClBr:/Fe/Pb3、同時使用兩條以上的特征線進(jìn)行測分析。例如Pb,需要選取PbLa和PbLb這兩條譜線進(jìn)行測試和判斷。一般情況下...