X射線衍射儀主要應用于樣品的物相定性或定量分析、晶體結構分析、材料的結構宏觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等，根據實際需要可以安裝各種特殊功能的附件及相應控制和計算機軟件，組成具有特殊功能的衍射儀。是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器，廣泛應用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業。

　　X射線衍射儀的原理：當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。

　　X射線衍射儀的用途：

　　（1）當材料由多種結晶成分組成，需區分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。

　　（2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。

　　（3）新材料開發需要充分了解材料的晶格參數，使用XRD可快捷測試出點陣參數，為新材料開發應用提供性能驗證指標。

　　（4）產品在使用過程中出現斷裂、變形等失效現象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。

　　（5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數據。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。